基本信息
| 标准名称： | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
| 英文名称： | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers |
| 中标分类： | 能源、核技术 >> 核仪器与核探测器 >> 核仪器与核探测器综合 |
| ICS分类： | 能源和热传导工程 >> 核能工程 >> 核能综合 |
| 替代情况： | GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989 |
| 发布部门： | 国防科学技术工业委员会 |
| 发布日期： | 2003-07-07 |
| 实施日期： | 2004-01-01 |
| 首发日期： | 1989-10-14 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 国防科学技术工业委员会 |
| 提出单位： | 全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 核工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 核工业标准化研究所 |
| 起草人： | 熊正隆 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-09 |
| 页数： | 26页 |
| 书号： | 155066.1-19982 |
适用范围
本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。
本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 能源 核技术 核仪器与核探测器 核仪器与核探测器综合 能源和热传导工程 核能工程 核能综合