JIS C8201-5-1-2007 低压开关装置和控制装置.第5-1部分:控制电路器件和开关元件.机电控制电路器件
时间:2024-05-19 21:42:40 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9157
【英文标准名称】:Low-voltageswitchgearandcontrolgear--Part5-1:Controlcircuitdevicesandswitchingelements--Electromechanicalcontrolcircuitdevices
【原文标准名称】:低压开关装置和控制装置.第5-1部分:控制电路器件和开关元件.机电控制电路器件
【标准号】:JISC8201-5-1-2007
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2007-12-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectricityTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,開閉制御装置の,制御,信号,インターロックなどを意図する制御回路機器及び開閉素子に適用する。
【中国标准分类号】:K30
【国际标准分类号】:29_120_40;29_130_20
【页数】:76P;A4
【正文语种】:日语
Product Code:SAE AMS5538
Title:Steel Sheet, Strip, and Plate, Corrosion and Heat Resistant 19.5cr 9.5ni 1.6mo 1.4w 0.58ti (Cancelled Jul 1984)
Issuing Committee:
Scope:【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;determinationoftheorientationofsinglecrystalsbymeansofLauebackscattering
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.第3部分:采用劳埃反向散射法测定单晶体取向
【标准号】:DIN50433-3-1982
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1982-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体工程;干涉;试验;半导体工艺;定义;半导体
【英文主题词】:Definition;Definitions;Interference(wavephysics);Semiconductorengineering;Semiconductortechnology;Semiconductors;Testing
【摘要】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;determinationoftheorientationofsinglecrystalsbymeansofLauebackscatteringEssaisdematériauxpourlatechnologiesemi-conducteurs;déterminationdel'orientationdemonocristauxparméthodepa
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语