基本信息
| 标准名称： | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 |
| 英文名称： | The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金相检验方法 |
| ICS分类： | 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料试验综合 |
| 发布部门： | 国家技术质量监督局 |
| 发布日期： | 2000-04-03 |
| 实施日期： | 2000-09-01 |
| 首发日期： | 2000-04-03 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 国家有色金属工业局 |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 北京有色金属研究总院 |
| 起草人： | 王海涛、钱嘉裕、王彤涵、宋斌、樊成才 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2000-09-01 |
| 页数： | 【彩图】7页 |
| 书号： | 155066·1-16984 |
适用范围
本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。
本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度的检验。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金相检验方法 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合